半导体二极管（稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管）检测

该检测的检测对象是什么?检测项目是什么?检测标准是什么?我们严格按照标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。我们只做真实检测。

检测对象：

半导体二极管(稳压管,TVS,TSS,硅桥,硅堆,肖特基二极管)检测

检测项目：

二极管特性曲线,低温测试,反向恢复时间,反向漏电流,密封,微分电阻Rz,浪涌电流,电耐久性试验,瞬态热阻,稳态热阻Rja，Rjc,箝位电压,粒子碰撞噪声检测试验,老炼试验,高温反偏试验,高温测试,高温寿命

检测标准：

1、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015

4、JESD51-14-2010 半导体器件结到外壳热阻瞬态双界面测试方法

5、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4023

6、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

7、GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节4.2.3,4.2.4

8、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 112

9、MIL-STD- 750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F

10、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 1014.2

11、GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q：密封

12、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009

13、GB/T4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 7.1.2，7.1.4

14、MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3101.4